各家展商尽显所能，但吸引眼球的还属我们的LUPHOScan测量平台。这是一款基于多波长干涉技术（MWLI®）的干涉、扫描测量系统，它专为旋转对称表面的超精密非接触式3D形状测量而设计，例如非球面光学透镜。
在光电展期间的新技术发表会上，泰勒霍普森发布了新品LUPHOScan 260HD – 一款超高精度非接触式三维测量系统，这款新研发的仪器对有着极高精度要求的光学元件测量有更大的优势。特别是在对陡坡、不同间距方向的表面以及智能手机镜头的模具等小镜头进行测量时，更能凸显其无可比拟的测量精度和速度。
